膜厚计的种类

膜厚仪有多种类型，它们的测量原理、测量方法和兼容材料各不相同，因此有必要根据应用场合使用一种。下面，我们将介绍六种薄膜测厚仪并解释每种薄膜测厚仪的特点。

这是一种利用“磁通密度”（即拉动磁铁的力）来测量涂膜的膜厚计，可在基材为粘附在磁铁上的金属的情况下使用。测量针使用含有电磁铁的线圈，通过与被测物体接触时磁通密度的变化来计算涂层厚度。

磁通密度值根据涂层表面到涂层下方基材的距离而变化。例如，如果涂层很薄，则基底和探头之间的距离就会很短，磁通密度就会很高。涂层越厚，基体与探头之间的距离越长，磁通密度越低。磁通密度的差异用于测量油漆的厚度。

电磁膜厚计可用于钢铁等磁性金属基体上镀有镀层或树脂膜等非磁性涂层的产品和设备。不能用于带有磁性涂层的产品或设备。

过流式膜厚计采用测针探头内含有电磁铁的线圈，但测量原理与电磁式膜厚计不同。涡流膜厚计根据尖端与被测物体接触时产生的过电流的强度来测量涂膜。由于它使用电流，因此还可以测量不粘附磁铁的金属涂层。

过电流的强度由被测物体表面到基板的距离决定。涂层越薄，过电流越强，涂层越厚，过电流越弱。计算涂膜的方法有两种：利用过电流的振幅的接触法和利用过电流的相位差的非接触法。

溢流式膜厚仪是测量非磁性金属绝缘涂层的完美机器。具体来说，它适用于测量在铝或铜等基材上涂有塑料或树脂的产品和设备。但如果涂有导电物质就不能使用。

兼具电磁式膜厚计和溢流式膜厚计的测量功能的膜厚计。它既可以测量钢铁等磁性材料，也可以测量铝、铜等非磁性金属。有使用电磁式和电流式这两种不同类型的测针的类型，以及可以用单个测针处理这两种类型的类型。

这是一种利用超声波的传播时间来测量涂膜的膜厚计，其独特之处在于它也可以用于非金属基材。将探头与被测物体表面接触，根据探头发出的超声波到达基材并被反射回来所需的时间（声速）得出涂膜的厚度。

超声波膜厚仪适用于混凝土、木材、玻璃、塑料等基材上的涂层。虽然每种材料的声速值大致固定，但声速根据各个涂层的不同而变化，因此必须进行调整以适应测量目标。

这是利用光的干涉效应进行测量的膜厚计。可测量电子部件、医疗设备、光学材料、半导体设备等多种材料的膜厚。

当薄膜受到光照射时，会发生两次反射：一次在薄膜表面，一次在薄膜背面。当反射光的波长匹配时，光的强度增加；当反射光的波长偏离时，光的强度减弱。光干涉是光的强度根据相位（各反射光的波长）而变化的现象。

测量方法是将光纤发出的光照射到被测物体上，用光纤接收物体反射的光，分析光的干涉图样，得出厚度。光谱干涉膜厚仪的另一个特点是可以处理表面粗糙的薄膜和多层薄膜。

这是一种膜厚计，根据漆膜的厚度和材质，吸收一定波长的红外线，从而测量漆膜的厚度。通过分析被测物体受到红外线照射时产生的透射光和反射光的光谱来计算厚度。

使用红外膜厚仪的优点是受被测物体表面状况、颜色浊度、振动等影响较小，可以快速、非接触式测量。它不仅用于测量漆膜的厚度，还可以测量塑料薄膜等单层和多层薄膜的厚度。

还有红外薄膜测厚仪，可以根据波长的组合测量丙烯酸、聚氨酯、硅胶等各种材料的厚度。